JEDEC Phát hành JESD264, Tiêu chuẩn Tiên phong về Độ tin cậy cho Quang học Silicon
Hiệp hội Công nghệ Bán dẫn JEDEC đã chính thức phát hành JESD264, thiết lập tiêu chuẩn chung đầu tiên của toàn ngành về kiểm định và độ tin cậy cho các thiết bị quang học silicon (SiPh). Bằng cách đưa ra các tiêu chí chung về kiểm thử và kiểm soát sản xuất, JESD264 giúp giảm thiểu rủi ro triển khai và phân định rõ trách nhiệm về độ tin cậy giữa xưởng đúc chip, đơn vị đóng gói và nhà phát triển hệ thống. Chuẩn hóa này sẽ thúc đẩy nhanh quá trình ứng dụng quang học silicon trong hạ tầng AI, trung tâm dữ liệu tốc độ cao và viễn thông. Tiêu chuẩn JESD264 áp dụng cho các tập chip quang học phức hợp tích hợp laser, bộ điều chế, đi-ốt quang và các cấu trúc quang học thụ động. Chuẩn này quy định cụ thể về chứng nhận cấp linh kiện, yêu cầu quy trình lắp ráp, tích hợp laser cũng như khả năng kiểm soát và truy xuất nguồn gốc trong sản xuất.
## KIẾN THỨC NỀN
Quang học silicon (Silicon Photonics - SiPh) là công nghệ tiên tiến sử dụng nền tảng silicon và ánh sáng (photon) thay cho tín hiệu điện (electron) để truyền tải dữ liệu dung lượng lớn với tốc độ cao và mức tiêu thụ năng lượng thấp hơn. Trước đây, ngành quang học silicon thiếu một khung tiêu chuẩn thống nhất về độ tin cậy và kiểm định, gây ra nhiều rủi ro và thiếu chắc chắn trong toàn chuỗi cung ứng.